Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy (angol)

· LAP Lambert Academic Publishing · 2012 · fűzött (paperback) · 72 oldal

Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy (angol)

945 Ft
945 Ft
Az ár 24 % az ajálott fogyasztói árral szemben
Normál ár 1 250 Ft
A termék jelenleg nem elérhető.
Tekintse meg az elérhető alternatív termékeket.
AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science and nano-technology. The AFM is capable of measuring nanometer scale images of insulating surfaces with thickness as well as measuring three dimensional images of surfaces and studying the topography. It is very suitable for... tovább 
  • Ez is érdekelheti
  • A szerző további könyvei
  • A kiadó további termékei
  • Utoljára megtekintett
  • Hasonló szerzők

Hasonló szerzők

Az ellenőrzött értékelések kifejezetten meg vannak jelölve, a többi nem ellenőrzött.
Semmilyen recenzió. Legyen Ön az első, írjon recenziót!
Váš avatar
Kiválasztás
Utónév
Az Ön recenziója
0

Látogatók könyve

Megjelölt ellenőrzött hozzászólások, a többi nem ellenőrzött.

Nagyker együttműködés

Ha érdekes a termékeik portfóliója, vegye fel velünk a kapcsolatot. Érdekes vásárlásokat, gyors fizetést és tiszteletteli együttműködést kínálunk.

nagykereskedesek@megakonyvek.hu

Alkoholt csak 18 éven felüliek vásárolhatnak.

Kérjük, erősítse meg, hogy már betöltötte a 18. életévét.