Conductive Atomic Force Microscopy (angol)

· Wiley-VCH · 2017 · kötött · 362 oldal

Conductive Atomic Force Microscopy (angol)

A teljes rendelését egy csomagban küldjük el, 1 postaköltségért!
3 382 Ft
3 382 Ft
Az ár 11 % az ajálott fogyasztói árral szemben
Normál ár 3 803 Ft
A termék jelenleg nem elérhető.
Tekintse meg az elérhető alternatív termékeket.
Foreword Preface Introduction to CAFM: History, Experimental and Current Status Reliability of Polycrystalline Thin Oxides and Insulators Investigation of High-k Dielectric Stacks by TUNA and CAFM: Advantages, Limitations and Applications 3D Tomography for Analyzing Conductive Filaments for... tovább 
Conductive Atomic Force Microscopy (angol)
A termék jelenleg nem elérhető.
3 382 Ft
  • Ez is érdekelheti
  • A szerző további könyvei
  • A kiadó további termékei
  • Utoljára megtekintett
  • Hasonló szerzők

Hasonló szerzők

Az ellenőrzött értékelések kifejezetten meg vannak jelölve, a többi nem ellenőrzött.
Semmilyen recenzió. Legyen Ön az első, írjon recenziót!
Váš avatar
Kiválasztás
Utónév
Az Ön recenziója
0

Látogatók könyve

Megjelölt ellenőrzött hozzászólások, a többi nem ellenőrzött.

Nagyker együttműködés

Ha érdekes a termékeik portfóliója, vegye fel velünk a kapcsolatot. Érdekes vásárlásokat, gyors fizetést és tiszteletteli együttműködést kínálunk.

nagykereskedesek@megakonyvek.hu

Alkoholt csak 18 éven felüliek vásárolhatnak.

Kérjük, erősítse meg, hogy már betöltötte a 18. életévét.